薄层色谱扫描法（一） .docxVIP

PAGE PAGE 1 薄层色谱扫描法（一） 薄层色谱扫描法，亦称薄层光密度法，系用一束一定波长、一定强度的紫外或可见光照耀在薄层板上，对薄层色谱中可汲取紫外光或可见光的斑点，或经激发后能放射出荧光的斑点举行扫描，测定其对光的汲取强度或经激发后所产生的荧光强度，将扫描得到的图谱及积分数据用于鉴别、检查或含量测定的办法。测定时可按照不同薄层色谱扫描仪的结构特点，根据规定方式扫描测定。普通挑选反射方式，采纳汲取法或荧光法。 一、 薄层色谱扫描法的原理(一) 薄层扫描办法薄层色谱扫描法的测定办法可分为汲取测定法反射法测定与荧光测定法。按照对光汲取测定方式的不同，又可分为反射法以及透射法两种方式举行扫描。透射法大多用于凝胶色谱的扫描，非透亮?????介质薄层板的扫描主要为反射式汲取法或荧光法扫描(图7-6)。扫描办法可采纳单波长扫描和双波长扫描。单波长薄层扫描适合于分别度好，背景干扰少的薄层。如采纳双波长扫描，应选用待测斑点无汲取或最小汲取的波长为参比波长，供试品色谱图中待测斑点的比移值(Rf值)、光谱扫描得到的汲取光谱图或测得的光谱最大汲取和最小汲取应与对比标准溶液相透射法测定符，以保证测定结果的精确?????性。薄层色谱扫描定量测定应保证供试品斑点的量在线性范围内，须要时可适当调节供试品溶液的点样量，供试品与标准物质同板点样、绽开、扫描、测定和计算。图7-6反射法及透射法薄层扫描路途暗示图按照扫描时间束的轨迹不同，薄层扫描又可分为线性扫描和锯齿扫描(图7-7)。线性扫描时普通采纳一束比待测斑点略宽的狭窄光带沿绽开方向做单向等速扫描，它适于外形较规章斑点的扫描。锯齿扫描用法的极小正方形光束在沿绽开方向运动的同时，在垂直于绽开方向也举行往复扫描，扫描过程中光束的运动轨迹呈锯齿形或矩形，它对于外形不规章或浓度分布不匀称的斑点扫描重复性较好，但扫描速度较慢。薄层色谱扫描用于含量测定时，通常采纳线性回来二点法计算，如线性范围很窄时，可用多点法校正多项式回来计算。(二) 薄层扫描法定量测定的理论依据在采纳反射式汲取法测定时，入射光照耀到薄层板上，一部分光透射过薄层板，一部分光发生反射，此外还有大量的散射光。因此，薄层扫描定量不遵从于Lambert-Beer定律，其样品量与反射光强度符合Kubelka-Munk方程：(1-R)2/R=2.303εC/S(式7-1)图7-7 线性扫描及锯齿扫描路途暗示图式中，R为反射光强，ε为样品汲取系数，C为样品浓度，S为薄层板散射系数。反射式汲取法测定时，Kubelka-Munk方程是定量的依据，样品量与反射光强度不呈直线的线性关系。但是在一个较窄的范围内，曲线可近似为一条直线，从而采纳外标一点法或两点法定量测定(图7-8)。如在测定范围内工作曲线直线回来线性关系较差，可按照不同仪器采纳不同办法举行校正。图7-8 薄层扫描线性工作曲线图a和c之间为曲线，仪器的线性化器将其拟合为线性则可采纳两点法测定b的含量；a和a'之间距离较小，可视为线性，在较小的范围内也可定量测定计算在岛津CS系列薄层扫描仪上，有线性补偿器(Linarizer)，它可依据Kubelka-Munk方程用电路系统将曲线校正为直线后用于定量。CAMAG等薄层扫描仪则可用法二次方程曲线表达样品量与反射光强度之间的关系，举行定量测定。