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本发明公开了一种各向异性材料残余应力测试的快速寻峰装置及方法。本发明中,采用白光X射线源对各向异性材料进行X射线衍射测试分析,并利用二维面阵探测器获得各个晶面的衍射峰信号,通过衍射峰参数标定、自动寻峰、数据提取和峰型拟合,最终获得特定晶面的衍射峰拟合曲线,为后续残余应力计算提供数据支持。相比单色X射线光源和线探测器组成的传统残余应力测试系统,本发明在各向异性材料衍射寻峰方面具有原理简单、易操作、获取数据量大、寻峰快速高效等优点,可显著提升各向异性材料残余应力测试的效率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116718623 A
(43)申请公布日 2023.09.08
(21)申请号 202310421066.7
(22)申请日 2023.04.19
(71)申请人 中国人民解放军空
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