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本发明公开了一种偏光膜的测试光路及测试方法,用于检测偏光膜的耐久性,包括:可调谐量子级联激光器控制器,用于触发电信号;可调谐量子级联激光器,与可调谐量子级联激光器控制器形成电信号连接,用于发出与电信号相对应的光信号;分束镜,设置在光信号的路径上,用于将光信号分为第一光束和第二光束;高时间分辨红外探测器,设置在第一光束的路径上,用于探测第一光束透过偏光膜后的发光强度,并转化为电信号;光学反射镜片,设置在第二光束的路径上,用于反射第二光束;信号收集系统,与所述高时间分辨红外探测器形成电信号连接,用于
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116465857 A
(43)申请公布日 2023.07.21
(21)申请号 202310296121.4
(22)申请日 2023.03.22
(71)申请人 中国科学技术大学
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