TCSAE《汽车用双倍数据速率同步动态随机存储器高温工作寿命试验规范》.pdf

ICS

CCS

团体标准

T/CSAExx－20xx

汽车双倍数据速率同步动态随机存储器

工作寿命试验规范

(DDRSDRAM)高温工作寿命测试评价方法

Evaluationofhightemperatureoperatinglifeforautomotivedoubledatarate

synchronousdynamicrandomaccessmemory

（征求意见稿）

DraftingguidelinesforcommercialgradesstandardofChinesemedicinalmaterials

在提交反馈意见时，请将您知道的该标准所涉必要专利信息连同支持性文件一并附上。

2024-xx-xx发布2024-xx-xx实施

中国汽车工程学会发布

T/CSAExx—20xx

目次

前言II

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4符号和缩略语2

5试验条件错误!未定义书签。

5.1样品工作温度等级错误!未定义书签。

5.2抽样原则错误!未定义书签。

5.3试验装置错误!未定义书签。

5.4应力条件错误!未定义书签。

6试验程序3

6.1概述3

6.2功能和电性能测试3

6.3加载应力4

6.4冷却和移除偏置4

6.5终点测试4

6.6失效判据4

6.7接受判定4

I

T/CSAExx—20xx

汽车双倍数据速率同步动态随机存储器工作寿命试验规范

1范围

本文件规定了汽车双倍数据速率同步动态随机存储器工作寿命试验的试验装置、样品要求、试验条

件和试验程序。

本文件适用于汽车双倍数据速率同步动态随机存储器。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T2900.1—2008电工术语基本术语

GB/T14113—1993半导体集成电路封装术语

GB/T36474—2018半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3SDRAM）测试

方法

IEC60749-23半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命（Semiconductordevices

-Mechanicalandclimatictestmethods-Part23:Hightemperatureoperatinglife）

3术语和定义

GB/T2900.1—2008、GB/T14113—1993和GB/T36474—2018界定的以及下列术语和定义适用于本

文件。

3.1

双倍数据速率doubledatarate；DDR

在每个时钟周期内进行两次数据传输的架构,分别在时钟上升沿和下降沿传输数据。

[来源：GB/T36474—2018，3.4]

3.2

同步动态