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本实用新型公开了一种MRAM芯片测试系统,涉及芯片验证测试技术领域。系统包括上位机、设置有FPGA核心板的FPGA测试底板和MRAM芯片转接板;上位机与FPGA测试底板连接,用于传输目标测试激励至FPGA测试底板上的FPGA核心板;FPGA测试底板连接MRAM芯片转接板,用于利用FPGA核心板根据目标测试激励对MRAM芯片转接板上的MRAM芯片进行测试,并反馈测试信息至上位机。由此可知,上述MRAM芯片测试系统实现了对MRAM芯片的测试;因系统中FPGA测试底板和MRAM芯片转接板具有结构简单、
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 219392962 U
(45)授权公告日 2023.07.21
(21)申请号 202223610055.3
(22)申请日 2022.12.29
(73)专利权人 浙江驰拓科技有限公司
地址 3
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