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本发明提供了一种测温光学系统以及光学设备,测温光学系统包括透镜、分束镜、第一滤波片、第一探测器、第二滤波片以及第二探测器,被测物体辐射的光线沿入射光轴经透镜聚焦到分束镜上且一部分光线透射经过分束镜后发生偏移并通过第一滤波片后被第一探测器接收,另一部分光线经过分束镜反射后穿过第二滤波片后被第二探测器接收,其中,第一探测器的轴心布置在偏移后光线的光轴上,本发明在原有分束光学系统的基础上,将主光路探测器的位置进行偏移,使得光学系统的机械中心随光轴变化而变化进而使透射光路光斑的光学中心与透射光路的探测器
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113866958 B
(45)授权公告日 2022.07.19
(21)申请号 202111300416.1 (56)对比文件
(22)申请日 2021.11.04
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