光缆中继段测试方案.docxVIP

光缆中继段测试方案 1. 适用范围及编制依据 1.1适用范围 适用于新建通信工程光缆中继段的全程测试施工。 1.2 编制依据 《通信工程施工技术指南》 《通信工程施工质量验收标准》 相关工程施工图设计文件和相关图纸； 以往类似工程的施工经验。 2. 作业准备 2.1 内业技术准备 在开工前组织技术人员认真学习实施性施工组织设计，阅读、审核施工图纸，澄清有关技术问题，熟悉规范和技术标准。制定施工安全保证措施，提出应急预案。对施工人员进行技术交底，对参加施工人员进行上岗前技术培训。 2.2 外业技术准备 确认中继段光缆接续完成并全部符合接续测试指标。 3. 技术要求 3.1 光缆中继段光纤线路的测试值应小于光缆中继段光纤线路衰减计算值。其计算值为 式中 α——光纤衰减标称值(dB/km) ——光缆中继段每根光纤接头平均损耗（dB） 单模光纤 0.08dB(1310mm、1550mm) 多模光纤 0.2dB ——光纤活动连接器平均损耗（dB） 单模光纤 0.7dB 多模光纤 1.0dB L——光中继段长度（km） n——光缆中继段内每根光纤接头数 m——光缆中继段内每根光纤活动连接器数 3.2 在一个光缆中继段内，每一根光纤接续损耗平均值应符合下列指标： 单模光纤0.08dB(1310mm、1550mm) 多模光纤0.2dB 3.3 对传输STM-4、STM-16的1310nm、1550 nm波长光纤和传输STM-1的1550nm波长光纤，应进行最大离散反射系数和S点最小回波损耗的测试，测试值应满足下列要求： 3.3.1 光缆中继段S、R点间的最大离散反射系数： STM-1 1550nm，不大于-25dB STM-4 1310nm，不大于-25dB STM-4 1550nm，不大于-27dB STM-16 1310nm、 1550nm，不大于-27dB 3.3.2 光缆中继段在S点的最小回波损耗（包括连接器）： STM-1 1550nm，不小于20dB STM-4 1310nm，不小于20dB STM-4 1550nm，不小于24dB STM-16 1310nm、 1550nm，不小于24dB 3.4对用于高速率密集波分复用（DWDM）系统的光纤需要进行偏振模色散（PMD）的测量： 偏振膜色散（PMD）的值应小于0.2ps/。 3.5 同一中继段光缆必须采用同一厂家光缆，且光缆的电气指数必须一致 4. 施工程序与工艺流程 4.1 施工程序 施工准备→测试端连接→读数记录→测试端移除。 4.2 工艺流程 图4.2 光缆中继段测试工艺流程图 5. 施工要求 5.1 施工准备 5.1.1检查光时域反射仪（OTDR）、光源、光功率计、PMD测试仪状态正常并在检定有效期内； 5.1.2 检查仪表所需使用的电源是否正常。 5.2 仪表测试 5.2.1 用OTDR测试光中继段光纤接头平均衰减： 图5.2.1光中继段光纤接头平均衰减测试示意图 测试步骤： （1） 测试前，清洗测试跳纤插头和法兰； （2） 用测试跳纤连接OTDR和ODF架的法兰头； （3） 利用背向散射法测出每个接头点两个方向接头衰减值(a、b)进行平均得出光纤接头平均衰减值： 式中 a--x点从A→B方向测得的接头衰减值； b--x点从B→A方向测得的接头衰减值； n --OTDR在光中继段上实际测得的接头点数。测试过程中发现损耗值过大时，分两步进行处理：第一步是用OTDR测试光纤是否有故障点，如果有则需处理好故障点再重新进行光缆中继段测试，第二步是用OTDR测试确定没有故障点，则需再次清洗测试跳纤插头和法兰，以保证测试的准确性。 5.2.2 光中继段线路衰减值测试 方法1：用OTDR测光中继段线路衰减值 测试步骤： （1） 测试前，清洗测试跳纤插头和法兰； （2） 用测试跳纤连接OTDR和ODF架的法兰头（测试连接方式见图5.2.1）； （3） 存储测试记录。 方法2：用介入损耗法（光源、光功率计）测光中继段线路衰减值 图5.2.2 介入损耗法光缆中继段测试示意图 测试步骤： （1） 测试前，清洗测试跳纤插头和法兰； （2） 用光纤连接器连接光源和ODF架的法兰头； （3） 在另一端用光纤连接器连接光功率计仪和ODF架的法兰头； （4） 光源发送光，光功率计接收光，并测出损耗值（测试表格中的P）； 按照下式计算出光中继段平均损耗值： 式中 ——第i盘光纤的实际衰减系数（dB/km） Li——第i盘光纤敷设后实际长度（km） ——活动连接器平均衰减值dB/个 m——测试时活动连接器数 n——实际接头数 注：测试中继段线路衰减值时： 测试过程中发现损耗值过大时，分两步进行处理：第一步是用OTDR测试光纤是否有故障点，如果有则需处理好故障点再重新进行