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ZnO基pn结及其紫外发光性

能的研究

目录

1.引言:ZnO薄膜的紫外激光研究综述

vZnO薄膜材料简介,特点和用途

vZnO基p-n结研究的几个方面之比较

v2.本课题研究内容

v理论基础:ZnO薄膜中的缺陷及其对制备p-ZnO的影响分析

vp型和n型ZnO薄膜的光学和结构特性

v热处理温度和方式对ZnOZnOp-n结质量的影响

v研究展望

3.

ZnO基pn结及其紫外发光性能的研

ZnO材料简介,特点和用途

第三代宽禁带光电功能材料的代表之一

ZnSe(1990),SiC(1992),GaN(1994),ZnO(1996)

(特点:禁带宽度(eV)=1240/激光波长(nm),反比关系)

1.ZnO是宽禁带:3.37eV、高束缚激子能60meV,

大于室温的热离化能26meV,因此

与其它几种宽禁带发光材料如ZnSe(束缚激子能22meV),

ZnS(40meV)和GaN(25meV)相比,ZnO是一种合适的用

于室温或更高温度下的紫外激光材料

2.生长成本较低

ZnO基pn结及其紫外发光性能的研

ZnO同质p-n结研究的几个

方面之比较

(i)半导体发光的几种激发方式

(PL,CL,EL)

(ii)p型半导体,n型半导体,p-n结

(iii)同质p-n结,异质p-n结

(iv)目前国内外通行的p-ZnO和ZnO同

质p-n结的制备方法(下页)

ZnO基pn结及其紫外发光性能的研

目前国外通行的p-ZnO和ZnO

同质p-n结的制备方法

v制备p-ZnO存在的困难,缺陷的形成能,杂

质的固溶特性

v几种制备p-ZnO的方法及特点

1)化学气相沉积法(CVD)

2)共掺杂法(co-doping)成品率低,光电效率差

3)激光脉冲沉积法(PLD)

4)反应溅射法(RSM)成品率较高,光电特性一般

5)热扩散法(TDM)成品率很高,光电特性差

v几种制备ZnOp-n结的方法及特点,突变结,

缓变结

ZnO基pn结及其紫外发光性能的研

2.研究内容

v理论基础:ZnO中的缺陷及其对制备p-ZnO的影响分析

根据理论分析ZnO薄膜中的天然缺陷一共有6种,但只有3种的形成

能较小,因而得以产生。它们是:氧空位,间隙锌,以及反位锌

锌锌

氧氧

间隙锌

反位锌

ZnO基pn结及其紫外发光性能的研

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