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本发明公开了一种HDI盲孔板测试结构及HDI盲孔板,包括第一层板、第二层板和第三层板。第一层板上设有第一检测区,第一检测区设有通孔和多个间隔分布的具有相同半径的偏位检测环PAD。第二层板上设有第二检测区,第二检测区上设有第一铜皮,第一铜皮上设有多个间隔分布的具有不同半径的盲孔。第三层板上设有第三检测区,第三检测区上设有多个间隔分布的第二铜皮。多个第二铜皮、多个盲孔与多个偏位检测环PAD三者分别一一对应,通孔和第一铜皮对应,偏位检测环PAD的半径小于盲孔的半径。本发明可以通过万用表等仪器检测通孔与
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113163591 A
(43)申请公布日 2021.07.23
(21)申请号 202110449804.X
(22)申请日 2021.04.25
(71)申请人 东莞市五株电子科技有限公司
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