半导体制造工艺培训教材(powerpoint 57页).ppt

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节省大量钨丝和铝源 钨丝蒸发时每根钨丝使用5~8次就得更换,而电子束蒸发采用屏蔽灯丝结构,灯丝寿命较长,使用得当,可以使用一年,并省去清洗钨丝的工作; 电子束蒸发将铝放在坩埚里,由于坩埚容积大,可放源150g左右,每蒸发一次所用铝源不多,而钨丝蒸发每次都得加铝源; 第三十一页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 不能产生均匀的台阶覆盖 通过片架的“自转”和“公转”,在台阶覆盖覆盖方面取得了一些进步; 在超大规模集成电路制造技术中,金属化需要能够填充具有高深宽比的小孔,并且产生等角的台阶覆盖; 蒸发技术在高深宽比的孔填充方面远远不能满足要求,所以导致蒸发在现代IC生产中被淘汰; 蒸发缺点 第三十二页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 难以淀积合金材料 由于合金是两种金属材料组成,而两种金属就会有两种不同的熔点,这使得利用蒸发使合金材料按原合金比例淀积到硅片上是不可能的; 第三十三页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 溅射 概念: 利用等离子体中的离子,对被溅镀物体(粒子靶)进行轰击,使气相等离子体内具有被溅镀物体的粒子,这些粒子淀积到硅晶片上形成溅射薄膜; 第三十四页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 溅射优点: 可在一个面积很大的靶上进行,这样解决了大尺寸硅片淀积铝膜厚度均匀性的问题; 在选定工作条件下,膜厚较容易控制,只要调节时间就可以得到所需要厚度; 溅射淀积薄膜的合金成分要比用蒸发容易控制; 第三十五页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 溅射工作原理: 产生离子并导向一个靶; 离子把靶表面上的原子轰击出来; 被轰击出的原子向硅片运动; 在硅片表面这些原子凝成薄膜; 第三十六页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 溅射示意图 第三十七页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 辉光放电 轰击靶材料的高能粒子是辉光放电产生的; 原理:一根玻璃管中充满了压力为1Torr的氩气,两个电极之间的距离为15cm,电压为1.5kv,在玻璃管中引入一个电子,这个电子在两个电极间的电场中加速,这个自由电子有可能碰撞氩原子,把氩原子中的电子激发出来,激发出来的电子就是轰击源材料的轰击源; 第三十八页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 溅射方式: 直流溅射(无法溅射绝缘材料,少用) 射频(RF)溅射(可溅射绝缘材料) 磁控溅射 第三十九页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 溅射优势(与蒸发相比) 适合于淀积合金,而且具有保持复杂合金成分的能力; 能获得良好的台阶覆盖(蒸发来自于点源,而溅射来自平面源并且可以从各个角度覆盖硅片表面,通过旋转和加热硅片,台阶覆盖还可以得到进一步提高); 形成的薄膜与硅片的黏附性比蒸发工艺好; 能够淀积难容金属; 第四十页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 学习情景三 常州信息职业技术学院 学习情景三: 薄膜制备 子情景4: 物理气相淀积 第一页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 半导体制造工艺 第2版 书名:半导体制造工艺 第2版 书号:978-7-111-50757-4 作者:张渊 出版社:机械工业出版社 第二页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 物理气相淀积 概念:物理气相淀积,简称PVD。它是以物理方式进行薄膜淀积的一种方式; 用途:集成电路中的金属薄膜一般都采用物理气相淀积方式制备; 方式:蒸发(蒸镀)和溅射(溅镀); 第三页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 蒸发:通过加热被蒸镀物体,利用被蒸镀物体在高温时(接近其熔点)的饱和蒸汽压,进行薄膜淀积,又称热丝蒸发; 溅射:利用等离子体中的离子,对被溅镀物体(粒子靶)进行轰击,使气相等离子体内具有被溅镀物体的粒子,这些粒子淀积到硅晶片上形成溅射薄膜; 第四页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 溅射系统示意图 第五页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 热丝蒸发 分类:真空钨丝蒸发和电子束蒸发 真空钨丝蒸发 真空知识 1标准大气压=760mmHg=760Torr 1mmHg=1Torr=133Pa 粗真空:760~10Torr 低真空:10~10-3Torr 中真空:10-3~10-5Torr 高真空:10-5~10-8Torr 超高真空:10-8Torr以上 第六页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 源材料 蒸发的目的是为了形成良好的欧姆接触、管芯内部互联以及引出电极引线。为了达到这个目的,所选用的源材料必须满足以下几个条件: 有良好的导电性能; 容易与硅形成良好的欧姆接触; 便于键合和引出金属线; 适合用蒸发工艺; 第七页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 与二氧化硅粘附性好; 没有毒害; 便于光刻; 价格便宜; 第八页,编辑于星期五:二十二点 五十五分。 在半导体器件和集成电路制造中,选用铝材料作为蒸发源;

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