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2021年材料分析测试技术期末考试重点知识点归纳 2021年材料分析测试技术期末考试重点知识点归纳 PAGE / NUMPAGES 2021年材料分析测试技术期末考试重点知识点归纳 材料分析测试技术复习参照资料 1、透射电子显微镜 其辨别率达10-1 nm，扫描电子显微镜其辨别率为1nm。透射电子显微镜放大倍数大。 第一章x射线性质 2、X射线本质：X射线属电磁波或电磁辐射，同步具备波动性和粒子性特性，波长较为可见光短，约与晶体晶格常数为同一数量级，在10-8cm左右。其波动性体现为以一定频率和波长在空间传播；粒子性体现为由大量不持续粒子流构成。即电磁波。 3、X射线产生条件：a产生自由电子；b使电子做定向高速运动；c在电子运动途径上设立使其突然减速障碍物。X射线管重要构造：阴极、阳极、窗口。 4、对X射线管施加不同电压，再用恰当办法去测量由X射线管发出X射线波长和强度，便会得到X射线强度与波长关系曲线，称为X射线谱。在管电压很低，不大于某一值（Mo阳极X射线管不大于20KV）时，曲线变化时持续变化，称为持续谱。在各种管压下持续谱都存在一种最短波长值λo，称为短波限，在高速电子打到阳极靶上时，某些电子在一次碰撞中将所有能量一次性转化为一种光量子，这个光量子便具备最高能量和最短波长，这波长即为λo。λo=1.24/V。 5、X射线谱分持续X射线谱和特性X射线谱。 *6、特性X射线谱： 概念：在持续X射线谱上，当电压继续升高，不不大于某个临界值时，突然在持续谱某个波长处浮现强度峰，峰窄而尖锐，变化管电流、管电压，这些谱线只变化强度而峰位置所相应波长不变，即波长只与靶原子序数关于，与电压无关。因这种强度峰波长反映了物质原子序数特性、因此叫特性x射线，由特性X射线构成x射线谱叫特性x射线谱，而产生特性X射线最低电压叫激发电压。 产生：当外来高速度粒子(电子或光子)动aE足够大时，可以将壳层中某个电子击出去，或击到原于系统之外，或使这个电子填到未满高能级上。于是在本来位置浮现空位，原子系统能量因而而升高，处在激发态。这种激发态是不稳定，势必自发地向低能态转化，使原子系统能量重新减少而趋于稳定。这一转化是由较高能级上电子向低能级上空位跃迁方式完毕，电子由高能级向低能级跃迁过程中，有能量减少，减少能量以光量子形式释放出来形成光子能量，对于原子序数为Z拟定物质来说，各原子能级能量是固有，因此．光子能量是固有，λ也是固有。即特性X射线波长为一固定值。 能量：若为K层向L层跃迁，则能量为： 各个系概念：原于处在激发态后，外层电子使争相向内层跃迁，同步辐射出特性x射线。咱们定义把K层电子被击出过程叫K系激发，随之电子跃迁所引起辐射叫K系辐射，同理，把L层电子被击出过程叫L系激发，随之电子跃迁所引起辐射叫L系辐射，依次类推。咱们再按电子跃迁时所跨越能级数目不同把同一辐射线系提成几类，对跨 越I，2，3．．个能级所引起辐射分别标以α、β、γ等符号。电子由L—K，M—K跃迁(分别跨越1、2个能级)所引起K系辐射定义为Kα，Kβ谱线；同理，由M—L，N—L电子跃迁将辐射出L系Lα，Lβ谱线，以此类推尚有M线系等。 7、X射线与物质互相作用：散射、吸取、透射。X射线散射有相干散射和非相干散射。 第二章X衍射方向 1，相干条件：两相干光满足频率相似、振动方向相似、相位差恒定（即π整数倍）或波程差是波长整数倍。 8、X衍射和布拉格方程： 波在传播过程中，在波程差为波长整数倍方向发生波叠加，波振幅得到最大限度加强，称为衍射，相应方向为衍射方向，而为半整数方向，波振幅得到最大限度抵消。 布拉格方程：2dsinθ=nλ。d为晶面间距，θ为入射束与反射面夹角，λ为X射线波长，n为衍射级数（其含义是：只有照射到相邻两镜面光程差是X射线波长n倍时才产生衍射）。该方程是晶体衍射理论基本。 产生衍射条件：衍射只产生在波波长和散射中间距为同一数量级或更小时候，由于λd／2d′＝sinθ＜1，nλ必要不大于2d′。由于产生衍射时n最小值为1，故λ<2d′；可以被晶体衍射电磁波波长必要不大于参加反射（衍射）晶体中最大面间距二倍，才干得到晶体衍射，即nλ<2d。 衍射方向：衍射方向表达式 上式即为晶格常数为a{hkl}晶面对波长为λx射线衍射方向公式；上式表白，衍射方向决定于晶胞大小与形状。也就是说，通过测定衍射束方向，可以测出晶胞形状和尺寸。至于原子在晶胞内位置，背面咱们将会懂得，要通过度析衍射线强度才干拟定。 9、X射线衍射办法：劳埃法；周转晶体法；粉末法（最惯用）；平面底片照相法 第三章X射线衍射强度 强度概念：x射线衍射强度，在衍射仪上反映是衍射峰高低(或积分强度——衍射峰轮廓所包围面积)，在照相底片上则反映为黑度。严格地说就是单位时间内通过与衍射方向相垂直单位面积上X射线光量