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AD高速采样控制器设计.doc
A/D高速采样控制器设计
高速A/D转换应用于视频处理、医学影像、高速数据转换等领域,本设计以TI公司的TLC5510为例介绍CPLD控制高速A/D转换进行数据采集。
TLC5510是一种采样精度为8位,转换速度高达20MSPS(兆次/秒)的A/D转换芯片。采用CMOS工艺制造,图1为TLC5510的管脚图
图1 TLC5510管脚图
引脚功能如下:OE为输出使能端;DGND、VDDD为数字地和数字电源;D1—D8为转换数据输出;CLK为时钟信号输入;AGND、VDDA为模拟地和模拟电源;REFT、REFTS、REFB、REFBS为参考电压基准输入。
TLC5510功能块框图
图2 TLC5510功能块框图
TLC5510的采样时序图TLC5510在每个时钟周期都启动一次采样,完成一次采样;每次启动采样在时钟的下降沿开始,转换结果在2.5个时钟周期后输出;当连续采集数据时,每个时钟的下降沿A/D都会输出一个采样数据。
图3 采样时序图
图4 内部功能的时序图
利用TLC5510内部的三个电阻R1、RREF、R2产生内部参考电压REFTS、REFT、REFB、REFBS,可以允许变化范围为2V的采样电压输入。
电路连接参考图5。
图5 利用内部电阻提供参考电压
如果不利用TLC5510的内部电阻分压提供参考电压,可以通过外部提供一个4V的参考电压,此时采样电压的输入范围为4V。电路连接参考图6。
图6 利用外部输入提供参考电压
模拟输入电压范围为VREF(B)—VREF(T)对应的数字量输出如图7所示:
图7 功能表
应用电路参考图8:
图8 TLC5510的应用电路
参数配置如图9:
图9 电路参数配置
系统框图如图10所示:数据采样模块为TLC5510,数据存储模块为LPM_RAM_DP,地址产生器模块为ADDR。
采样模块TLC5510的输出ADCK为TLC5510提供采样时钟,ADOE为TLC5510的输出使能一直有效,DATA[7..0]为采样数据输出连接到数据存储模块的输入端DATA[],DCLK为DATA的同步时钟为地址产生器提供计数脉冲;地址产生器的地址输出连接到wraddress[]从零开始,当采样模块输出一个数据存储到RAM中后,DCLK输出一个脉冲使地址加一,连续采集1024个数据进行存储;LPM_RAM_DP为双端口RAM读写相互独立,输入地址ADDR[9..0]到LPM_RAM_DP的读地址rdaddress[]端则相应的数据就从q[7..0]输出了。选择EP1K50QC208-3器件此电路经过MAX+PLUSII的时序分析给出最大工作频率为119.04MHz,远远超出设计要求。
图10 数据采集系统框图
模块TLC5510的参考程序如下:
library ieee;
use ieee.std_logic_1164.all;
entity tlc5510 is
port(rst:in std_logic;
clk:in std_logic;
d :in std_logic_vector(7 downto 0);
adck:out std_logic;
adoe:out std_logic;
data:out std_logic_vector(7 downto 0);
dclk:out std_logic);
end tlc5510;
architecture adctro of tlc5510 is
type adstates is(sta0,sta1);
signal ads_state,next_ads_state:adstates;
signal lock:std_logic;
begin
process (ads_state)
begin
case ads_state is
when sta0=>adck<='1';lock<='1';dclk<='0';
next_ads_state<=sta1;
when sta1=>adck<='0';lock<='0';dclk<='1';
next_ads_state<=sta0;
when others=>adck<='0';lock<='0';dclk<='1';
next_ads_state<=sta0;
end case;
end process;
process(clk,rst)
begin
if rst='0' then
ads_state<=sta0;
elsif (clk'event and clk='1') then
ads_state<=next_ads_state;
end if;
en
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