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《数字逻辑实验》报告五:中规模元件及综合设计
中规模时序元件测试
实验目的:在计数器74LS161芯片上,分别用反馈置数法和清零法构造模10计数器,并进行测试。
原理:
74LS161是四位可预置数二进制加计数器,采用16脚双列直插式封装的中规模集成电路。外形如下图。
RD异步复位输入端;ET、EP计数使能输入端;CP时钟输入端;RCO是进位输出端;VCC电源输入端;GND接地端;A、B、C、D预置数据输入端LD预置端;QA、QB、QC、QD计数值输出端。
在复位端高(RD)电平、预置端(LD)低电平时为同步预置功能,即时钟信号能使输出状态QA、QB、QC、QD等于并行输入预置数A、B、C、D。在复位和预置端都为无效电平时,计数使能端输入使能信号(ET、EP=1)时,74161为模16加法计数功能。而ET、EP=0时,实现状态保持功能。在QA、QB、QC、QD=1111时,进位输出端RCO=1。
反馈清零法:
74LS161从Q3Q2Q1Q0=0000开始计数,经过M-1个时钟脉冲状态对应二进制数最大,下一个CP后计数器应复位,开始新一轮M计数。复位信号在M个CP时产生,所以复位信号在Q3Q2Q1Q0=1100时,使计数器复位Q3Q2Q1Q0=0000。由状态1100产生的低位电平复位信号可用与非门实现。即/RD=/Q3Q2。
接线图与状态图如图所示
反馈置数法一:通过反馈产生置数信号/LD,将预置的D3D2D1D0数预置到输出端。
预置数D3D2D1D0=0000,应在Q3Q2Q1Q0=1011时预置端变为低电平,故/LD=/Q3Q1Q0
接线图和状态图如图所示
反馈置数法二:预置数D3D2D1D0=0100,进位输出CO作为预置信号/LD,即/LD=/CO。
电路图与时序图如图所示
实验步骤:
用74LS161芯片按照实验指导书中,反馈置零法和反馈置数法的接线图,分别连接芯片引脚;
进行测试。
实验数据:
表11-1反馈置数法
RD
LD
CT
CP
输入脉冲序号
电路状态
等效十进制数
Q3
Q2
Q1
Q0
1
0
1
1
0
0
0
0
0
0
1
0
1
1
1
0
0
0
1
1
1
0
1
1
2
0
0
1
0
2
1
0
1
1
3
0
0
1
1
3
1
0
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1
4
0
1
0
0
4
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1
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0
6
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0
8
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10
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0
0
0
0
实验现象
清零计数器后,每当输入一个时钟脉冲,计数器按照加一规律变化,由0→1→2→...........→9→0..做0到9循环。
体会:
通过这次实验,我又了解到了四位可预置数二进制加计数器74LS161芯片的原理以及各引脚功能,学到了异步复位与预置端的概念。同时也掌握到了用集成计数器构造模计数器的方法。对于反馈清零法和反馈置数法的原理和连线有了一定的理解。
实验过程中的小插曲是在实行反馈置数法构成模十计数器时,应在Q3Q2Q1Q0为1001时预置端变为低电平,但我没有多加注意,使其在1010时才变为低电平,因而出了差错。最后核对状态图和重新细读其原理时才发现问题改正过来。
用中规模元件构建序列发生器
实验目的:在Maxplus中,使用计数器或者寄存器等中规模时序部件,以及数字选择器或译码器等中规模组合逻辑部件,设计一个序列发生器,通过软件模拟后,下载到实验台上测试硬件。
原理:
设计图:
实验步骤:
在MAXPLUS中使用中规模时序部件,以及中规模组合逻辑部件,构成一个可预置序列发生器的逻辑图;
使用模拟工具进行模拟验证,并通过验证;
定义FPGA的IO引脚功能;
下载设计的电路到FPGA;
测试FPGA的功能。
实验数据:
预置输入
输出
CP
Id
D0
D1
D2
D3
D4
D5
D6
D7
Qa
Qb
Qc
Z
QaQbQc
0
1
0
1
1
0
0
1
1
1
0
0
0
0
0
1
0
0
1
1
1
2
0
1
0
1
2
3
0
1
1
0
3
4
1
0
0
0
4
5
1
0
1
1
5
6
1
1
0
1
6
7
1
1
1
1
7
实验现象:
将Id开关置于1,预置D0D1D2D3D4D5D6D7序列分别当第一个CP脉冲来时,QaQbQc计数器输出端从0开始计数,做0到7循环;z输出端以预置端的预置输入变化,即为:0→1→1→0→0→1→1→1→0.....
体会:
本次实验是最后一次实验,故综合了之前所有掌握的知识,考验我们几次课程以来修炼的结果。要求我们需要对之前所遇到过的计数器、寄
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