GB∕T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法.pdf

ICS31.200

CCSL56GB

中华人民共和国国家标准

GB/T42848-2023

半导体集成电路

直接数字频率合成器测试方法

Semiconductorintergratedcircuits一

Testmethodofdirectdigitalfrequencysynthesizer

2023-08-06发布2023-12-01实施

国家市场监督管理总局4非

国家标准化管理委员会也叩

GB/T42848-2023

目次

前言………………………·…m

1范围…··

2规范性引用文件－

3术语和l定义……·

4总则………………………3

4.1测试环境…………………3

4.2测试注意事项…………3

4.3相关文｛牛

5静态参数…………………3

5.1逻辑输入高电平电压V1H…………3

5.2逻辑输入低电平电压VIL……………4

5.3逻辑输出高电平电压VoH

5.4逻辑输出低电平电压Vrn.……………6

5.5逻辑输入高电平电流I,H………........…………….7

5.6逻辑输入低电平电流ln,…………………….8

5.7增益误差巳．…………………………8

5.8积分非线性TNL…………………10

5.9微分非线性DNL………….11

5.10满阳输出电流I内…………………12

5.11输出失调电流L川………………13

5.12电压适应范围VDAC………………13

5.13时钟输入偏宜电压凡……………14

6动态参数测试……………15

6.1建立时间tSU………………………15

6.2保持时间阳……………….15

6.3输出电容C”1

5

6.4H寸钟输入频率fR仨F

6.5时钟输入幅度＼IREPιl