检具设计_可编辑.pptxVIP

工標處治具課 一. 檢 驗 治 具 之 定 義 是專門為零 ;組件的受控尺 寸而設計 ;制造的檢驗工具 二.檢驗治具應用目的 A;提高生產效率 ;降低成本. B;控制產品品質均質. C;消除人為因素對產品之影 三.檢驗治具設計原則 1 .治具公差選取原則 治 所給公差原則上應占被檢尺寸公差的 1/5 1/10但有時確應按實際情況及加工能力而定, 總的來講設計當中應盡可能給工件留出最大的 制造空間, 目前治具公差的選取有2種方法： 一、是直接給出公差的同時參考機械加工能力, 二、是按標準選定, 並留有一定備磨量 示 T: 工件公差帶 T3: 給工件所留制造公差帶 T1, T2 : 治具GO 和NG端公差帶 TS : 治具備磨量 (需查表) 第一種 說明 S : 工件公稱尺寸 公 差 帶 選 擇 圖 第二種 兩 种 方 案 對 比 實 例 說 明 已知 :一個被測孔直徑為 D = 2 . 7 3 + 0 /- 0 . 1 3 則按第一种公差帶選取方法其治具設計尺寸為 : G O 端為 : 2 . 6 0 + 0 . 0 1 /- 0 N G 端為 : 2 . 7 3 + 0 /- 0 . 0 1 則按第二种公差帶選取方法其治具設計尺寸為 : G O 端為 : 2 . 6 0 + 0 . 0 1 2 /+ 0 . 0 0 2 N G 端為 : 2 . 7 3 + 0 /- 0 . 0 1 A;檢治具設計應遵守 :阿貝原則 尺寸鏈傳遞最短原則 變形最小原則 經濟原則 B;治具設計應可靠且操作簡單 ;迅速 ;准确. C;治具設計應考慮治具維護性. D;治具設計應考慮ECN變更的靈活性. 2 .治具一般設計原則 四.檢驗治具最低要求 A;外觀 : 治具的表面應無明顯影響治具使用的外部缺陷, 如 :划傷 ;嚴重鏽蝕 ; 易造成傷害之尖角等. B;治具各相配合部分之滑動應平穩 ;靈活 ;無卡滯現象. C;治具零件表面粗糙度之要求. 1. 治具工件與被測工件接觸的定位面, 定位銷, 定位塊 等其表面粗糙度應不低于Ra0.8. 2. 測量面, 滑塊等表面粗糙度應不低于Ra0.8. 3. 滑軌,導軌表面粗糙度應不低于Ra0.4. 4. 有一定精度的線割孔, 槽, 電火花加工面, 其表面粗糙 度應不低于Ra1.6. 五.檢驗治具測量誤差的主要來源 1 .配合間隙產生的誤差. 2 .標准件 ;附件誤差. 3 .工件變形產生的誤差. 系 統 誤 差 .系統誤差 :在同一測量條件下,多次測量同一 量值時.若誤差的大小和符號固定不變或在條 件改變時按一定規律變化的誤差. 系統誤差之發現 1 .實驗對比法 2 .計算數据比較法 3 .不同公式計算標准誤差比較法 4 .剩余誤差觀察法 函數系統誤差計算 間接測量中 : y=x1+/-x2+/- ……….+/-xn Δy=Δx1+/-Δx2+/- …………+/-Δxn 函數系統誤差計算實例 某四等量塊組由兩個不同尺寸之量塊組成 L = L 1+ L 2 已知 : L 1=50.000mm ΔL1=-0.0008mm L 2=7.500mm ΔL2=- 0.0005mm 求 : L 和ΔL 解 :L0=50.000+7.500=57.500mm ΔL=-0.0008-0.0005=-0.0013mm L=57.5000-0.0013=57.4987mm .偶然誤差(隨機誤差) :是指在同一定測量 條件下,多次測量同一尺寸時,其絕對值和 符號以不可預定的方式變化的誤差. 偶然誤差 函數偶然誤差的計算 間接測量中 : y=x1+/-x2+/- ……….+/-xn Δy=+/- SQRT(Δ122+Δ222+…………+Δn)2 偶然誤差計算實例 某四等量塊組由兩個不同尺寸之量塊組成 L = L 1+ L 2 已知尺寸檢測的极限偏差為 L 1=50.000mm Δ 1=+/-0.00045mm L 2=7.500mm Δ2=+/-0.00020mm 求 : L 和ΔL 解 :L0=50.000+7.500=57.500mm ΔL= =+/- S Q C2 (Δ1122+Δ2 )=+/-0.00049mm L= (57.5000+/-0.00049)mm 最有利測量條件的确定 如某一測量過程中其測量結果受若 干個因素的影響,如何建立測量結果 与各因素之間的關系,使得測量誤差 最小,這是在測量過程中要考慮的. 六.治具常見的設計形式 A .常見型式1 注 :一般S<50