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数通研发硬件自测试报告 产品型号硬件版本BOM版本测试人员 研发阶段PCB 版本软件版本测试时间 上海斐讯数据通信技术有限公司所属 BP-100A 第 第 PAGE 10页，共 24 页 修 订 记 录 修 订 记 录 修订日期 版本 修订内容摘要 修订 审核 批准 目录 测试内容 4 纹波噪声、电压精度测试 4 测试方法 4 测试仪器与测试设备 4 纹波噪声、电压精度测试数据 4 上电顺序、过冲测试 6 测试方法 6 测试仪器与测试设备 6 上电顺序测试数据 6 上电复位测试 7 测试方法 7 测试仪器与测试设备 7 上电复位测试数据 7 时钟信号测试 8 测试方法 8 测试仪器与测试设备 8 时钟测试数据 8 按键测试 10 测试方法 10 测试仪器与测试设备 10 按键测试数据 10 指示灯测试 11 测试方法 11 测试仪器与测试设备 11 指示灯测试数据 11 光参数测试 13 测试方法 13 测试仪器与测试设备 13 光参数测试数据 13 PCM-4 测试 14 测试方法 14 测试仪器与测试设备 14 PCM-4 测试数据 14 常温常压性能测试数据 18 测试方法 18 测试仪器与测试设备 18 测试数据 18 无线测试 19 无线 RF 性能测试 19 测试仪器与测试设备 19 测试数据： 19 无线 throughput 测试 22 底噪测试 23 测试方法 23 测试仪器与测试设备 23 底噪测试数据 23 线路模拟传输性能 24 测试方法 24 测试仪器与测试设备 24 线路模拟传输性能测试数据 24 1 测试内容 纹波噪声、电压精度测试 测试方法 常温下，产品满负荷运行，测试产品各芯片管脚、电源芯片或模块输出的电压值、纹波噪声；判定是否满足产品及芯片要求。 测试仪器与测试设备 测试仪器 型号 数量 数字示波器 1PCS 探棒 电源适配器 12V/1A DC 1PCS 网络测试仪Itester1PCS局端设备 网络测试仪 Itester 1PCS 局端设备 ZTE EPON OLT 1PCS 待测设备 设备编号 测试 最大值 最小值 测试 最大值 最小值 项目 (V) (V) Spec (V) 纹波 Full 测试点 （靠近 芯片） 纹波 Full (mV) 纹波 Full Spec（mV） 纹波 20MHz 测试点 （电源芯片输 出） 纹波 20MHz (mV) 纹波 20MHz SPEC（mV） 结论 V*95%~ V105% V*95%~ V105% V*95%~ V*5% 30 0.9 V*5% 30 1 1.2 V*5% 50 V105% 1.5 V*95%~ V105% V*5% 50 1.8 V*95%~ V105% V*5% 50 2.5 V*95%~ V105% V*5% 80 3.3 V*95%~ V105% V*5% 80 5 V*95%~ V105% V*5% 100 12 V*95%~ V105% V*5% 300 测试图片压缩存放在这个位置。 上电顺序、过冲测试 测试方法 常温下，产品满载，测试产品各电压的上电顺序以及过冲情况，验证是否满足芯片要求。 测试仪器与测试设备 测试仪器 型号 数量 数字示波器 1PCS 探棒 电源适配器 12V/1A DC 1PCS 网络测试仪Itester1PCS局端设备 网络测试仪 Itester 1PCS 局端设备 ZTE EPON OLT 1PCS 待测设备 设备编号 测试项目 测试项目 BCM6358-3.3V&2.5V 上电顺序测试要求 测试结果 ≥0mS 500.231uS 电源上电过冲测试 结论 过冲小于芯片要求 Pass 测试图片压缩存放在这个位置。 上电复位测试 测试方法 常温下，产品满负荷持续运行，测试产品所有复位信号质量，判定其是否满足各芯片要求。 测试仪器与测试设备 测试仪器 型号 数量 数字示波器 1PCS 探棒 电源适配器 12V/1A DC 1PCS 网络测试仪Itester1PCS局端设备 网络测试仪 Itester 1PCS 局端设备 ZTE EPON OLT 1PCS 待测设备 设备编号 测试项目 测试项目 CPU_JTAG_TRST 上电顺序测试要求 ≥200ns 测试结果 282.042 ms 结论 Pass 测试图片压缩存放在这个位置。 时钟信号测试 测试方法 常温下，产品满负荷持续运行，测试产品所有晶体 /晶振时钟、接口时钟输出特性， 判定是否满足芯片要求。 测试仪器与测试设备 测试仪器 型号 数量 数字示波器