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本申请公开一种辅助探测器像素阵列串扰度测试的准直装置,涉及辐射成像探测器阵列的性能测试领域,以解决现有准直器的准直槽孔是通过两块板拼接形成,拼接形成的准直槽孔较为粗糙,由射线源发出的射线束在通过准直槽孔后其射线束大小和形状精度低;并且,现有准直器一般只能进行移动无法偏转的问题。其包括:底座支撑架;Z轴旋转机构,其设置于所述底座支撑架上,Z轴旋转机构的驱动端相对底座支撑架绕Z轴旋转;Y轴偏转组件,其设置于所述Z轴旋转机构上,Y轴偏转组件的驱动端相对Z轴旋转机构绕Y轴旋转;X轴偏转组件,其设置于所述
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 219936688 U
(45)授权公告日 2023.10.31
(21)申请号 202320889189.9
(22)申请日 2023.04.18
(73)专利权人 深圳安科高技术股份有限公司
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