赫立AOI 作业指导书.doc

电容（CHIP) 缺件 缺件 颜色抽取HSV/亮度抽取 通用 片式元件定位（定焊盘） 偏移 窗口生成（上下） 偏移 亮度最大值 偏移 亮度梯度最小跨度 偏移 窗口生成（左右） 通用 片式元件定位(定本体） 错件 亮度平均值/亮度抽取 偏移 相对偏移值 　　 立碑 立碑 颜色抽取（仅在炉后检测） 算法 参考光源 检测窗口示意图 参数 合格范围 定焊盘 片式元件定位 （Side*2-0.3）*2 (((top.lum|side.lum)*((1-((top*side).(g-r)-0.1)*2-1)*2-0.25)*10-0.2)*10).lum (1-(top.lum|side.lum).(3*r-g)-0.6)*5-0.7 缺件 颜色抽取HSV side 亮度抽取 side 定本体 片式元件定位 1-(1-top.lum*2-0.2)*3-0.4 （top.lum*3-0.5）*2 错件 亮度平均值 side 亮度抽取 side 立碑 颜色抽取HSV side 偏移 相对偏移值 任意 偏移 窗口生成 side 无 偏移 亮度最大值 1-(1-top.lum*2-0.2)*3-0.4 （top.lum*3-0.5）*2 偏移 窗口生成 side 无 偏移 亮度投射最小跨度 1-(1-top.lum*2-0.2)*3-0.4 （top.lum*3-0.5）*2 电阻（CHIP) 偏移 偏移 窗口生成（左右） 通用 片式元件定位（定焊盘） 偏移 窗口生成（上下） 偏移 亮度最大值 缺件 亮度梯度双边距离（mm)/颜色抽取/亮度抽取% 通用 片式元件定位(定本体） 错件 亮度平均值/亮度抽取 偏移 相对偏移值 侧立 亮度梯度最小跨度 立碑 亮度梯度最小跨度（仅炉后检测） 0 偏移 亮度梯度最小跨度 偏移 亮度梯度最小跨度 算法 参考光源 检测窗口示意图 参数 合格范围 定焊盘 片式元件定位 （Side*2-0.3）*2 (((top.lum|side.lum)*((1-((top*side).(g-r)-0.1)*2-1)*2-0.25)*10-0.2)*10).lum (1-(top.lum|side.lum).(3*r-g)-0.6)*5-0.7 缺件 颜色抽取HSV side 亮度梯度双边距离（mm） (((top.lum|side.lum)*((1-((top*side).(g-r)-0.1)*2-1)*2-0.25)*10-0.2)*10).lum 1-(1-top.lum*2-0.2)*3-0.2 定本体 片式元件定位 1-(1-top.lum*2-0.2)*3-0.4 （top.lum*3-0.5）*2 错件 亮度平均值 side 亮度抽取 side 侧立 亮度投射最小跨度 side 偏移 相对偏移值 Side 偏移 窗口生成 side 无 偏移 亮度最大值 1-(1-top.lum*2-0.2)*3-0.4 （top.lum*3-0.5）*2 偏移 窗口生成 side 无 偏移 亮度投射最小跨度 1-(1-top.lum*2-0.2)*3-0.4 （top.lum*3-0.5）*2 电感（CHIP) 偏移 偏移 窗口生成（上下） 偏移 亮度最大值 通用 片式元件定位（定焊盘） 偏移 亮度梯度最小跨度 偏移 窗口生成（左右） 缺件 颜色抽取（HSV)/亮度抽取% 立碑 颜色抽取（仅炉后测） 通用 片式元件定位(定本体） 侧立 亮度平均值 错件 亮度平均值 偏移 相对偏移值 算法 参考光源 检测窗口示意图 参数 合格范围 定焊盘 片式元件定位 （Side*2-0.3）*2 (((top.lum|side.lum)*((1-((top*side).(g-r)-0.1)*2-1)*2-0.25)*10-0.2)*10).lum (1-(top.lum|side.lum).(3*r-g)-0.6)*5-0.7 无 缺件 颜色抽取HSV side 亮度抽取 Side (((top.lum|side.lum)*((1-((top*side).(g-r)-0.1)*2-1)*2-0.25)*10-0.2)*10).lum 定本体 片式元件定位 1-(1-top.lum*2-0.2)*3-0.4 （top.