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本发明提供一种探针调节件、探针架及测试平台，属于芯片测试技术领域，其中，探针调节件包括：调节件本体，具有螺纹段和连接在螺纹段一端的阻挡部，阻挡部的外径大于螺纹段，螺纹段的中心具有朝向远离阻挡部的一端开口的中心孔；第一弹性件，套设于螺纹段上，第一弹性件的一端抵接在阻挡部上；第二弹性件，装设于中心孔内，第二弹性件的伸出中心孔的一端用于与探针的摆臂接触；本发明的探针调节件，通过第一弹性件对阻挡部进行弹性抵接，从而保证螺纹段进行螺纹连接时沿轴向保持相对稳定，进而提高调节精度，通过第二弹性件用于对探针的摆
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116519998 A
(43)申请公布日 2023.08.01
(21)申请号 202310491079.1
(22)申请日 2022.04.21
(62)分案原申请数据
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