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本发明是一种应用高频测量的测试针座改良结构,包括:一针座,其包括有一第一板体、一第二板体及复数探针槽,该复数探针槽内设有复数探针,该第一板体及该第二板体之间具有复数第一容置槽及复数第二容置槽;一可移动电路板,设置于该第一板体顶侧处,且与该第一板体之间具有一伸缩间隙,对应该复数第二容置槽处设有供复数锁固元件穿置的复数穿孔;一伸缩膜,周缘贴合于该可移动电路板底侧的表面处,且包覆贴合于该第二板体底侧;一保护膜,贴合于该伸缩膜底侧表面处,且设有对应该复数探针处的复数导电针体,该复数导电针体会凸出该保护膜
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116482425 A
(43)申请公布日 2023.07.25
(21)申请号 202210042430.4
(22)申请日 2022.01.14
(71)申请人 冠铨科技实业股份有限公司
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