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本发明公开了一种基于循环复位的安全芯片防光子探测方法，包括：在芯片未使用密钥时，密钥使用通路所有敏感逻辑门均进行长时间循环0/1复位赋值，当芯片使用密钥时，密钥使用通路切换至输入密钥，由于密钥使用通路所有敏感逻辑门的敏感晶体管循环进行光子辐射，在不同的输入密钥情况下对外呈现是相同的积分光子辐射图像，攻击者无法根据光子辐射图像判断逻辑门的最终状态，从而确保芯片不被光电探测所破解。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116361869 A
(43)申请公布日 2023.06.30
(21)申请号 202310341261.9
(22)申请日 2023.03.31
(71)申请人 北京安信智芯科技有限公司
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