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本发明公开了一种光照条件测试方法及适用于该测试的传感器阵列测试板，包括图卡切换机架和传感器阵列测试板；传感器阵列测试板包括传感器阵列测试板框架和设置在传感器阵列测试板框架内的传感器；传感器的收光窗口平面与传感器阵列测试板框架上表面处于同一水平面；在测试时，先使用传感器阵列测试板进行光照条件的测试；在光照条件达标后，切换图卡切换机架内的测试图卡进行实际测试。本发明可获得图卡表面的环境光数据，而不会因为在图卡上增加了别的元素而导致拍摄和分析结果变化；相对于传统在图卡上或周边放置传感器的方法，可以获取
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113301325 A
(43)申请公布日 2021.08.24
(21)申请号 202110515040.X
(22)申请日 2021.05.11
(71)申请人 易诚博睿（南京）科技有限公司
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