仪表示数方法、装置、电子设备以及存储介质CN115797934A.pdfVIP

权利要求书4页 说明书20页 附图6页 发明名称 仪表示数方法、装置、电子设备以及存储介 质 摘要 本公开提供了一种仪表示数方法、装置、电 子设备以及存储介质，涉及计算机视觉、深度学 习和工业质检技术领域。具体实现方案为：根据 对指针仪表的仪表图像进行检测得到的目标检 测信息，从仪表图像中确定表盘图像；对表盘图 像进行关键点检测，得到刻度检测信息，其中，刻 度检测信息包括至少一个关键点的位置信息，关 键点表征目标刻度的点，目标刻度具有与目标刻 度对应的至少一个关键点，目标刻度是具有示数 的刻度；根据对表盘图像进行图像分割得到的图 像分割信息，得到指针识别信息；根据刻度检测 A 信息、指针识别信息和与刻度检测信息对应的刻 4 度示数信息，得到仪表示数识别信息。 3 9 7 9 7 5 1 1 N C CN 115797934 A 权　利　要　求　书 1/4页 1.一种仪表示数识别方法，包括： 根据对指针仪表的仪表图像进行检测得到的目标检测信息，从所述仪表图像中确定表 盘图像； 对所述表盘图像进行关键点检测，得到刻度检测信息，其中，所述刻度检测信息包括至 少一个关键点的位置信息，所述关键点表征目标刻度的点，所述目标刻度具有与所述目标 刻度对应的至少一个关键点，所述目标刻度是具有示数的刻度； 根据对所述表盘图像进行图像分割得到的图像分割信息，得到指针识别信息；以及 根据所述刻度检测信息、所述指针识别信息和与所述刻度检测信息对应的刻度示数信 息，得到仪表示数识别信息。 2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对所述表盘图像进行关键点检测，得到刻度 检测信息，包括： 对所述表盘图像进行特征提取，得到至少一个尺度的关键点特征图；以及 根据所述至少一个尺度的关键点特征图，得到所述刻度检测信息。 3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述对所述表盘图像进行特征提取，得到至少一 个尺度的关键点特征图，包括： 对所述表盘图像进行M个阶段的特征提取，得到与第M阶段对应的至少一个关键点特征 图；以及 根据与所述第M阶段对应的至少一个关键点特征图，得到所述至少一个尺度的关键点 特征图； 其中，第m阶段具有T 个并联层级，同一并联层级的关键点特征图的图像分辨率相同，不 m 同并联层级的关键点特征图的图像分辨率不同； 其中，M是大于1或等于1的整数，m是大于或等于1且小于或等于M的整数，T是大于或等 m 于1的整数。 4.根据权利要求3所述的方法，其中，在M是大于1的整数的情况下，所述对所述表盘图 像进行M个阶段的特征提取，得到与第M阶段对应的至少一个关键点特征图，包括： 对与第m‑1阶段对应的至少一个关键点特征图进行卷积处理，得到与第m阶段对应的至 少一个中间关键点特征图；以及 对与所述第m阶段对应的至少一个中间关键点特征图进行特征融合，得到与第m阶段对 应的至少一个关键点特征图； 其中，m是大于1且小于或等于M的整数。 5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述对与所述第m阶段对应的至少一个中间关键 点特征图进行特征融合，得到与第m阶段对应的至少一个关键点特征图，包括： 针对所述T个并联层级中的第i个并联层级， m 根据与所述第i个并联层级对应的其他中间关键点特征图和与所述第i个并联层级对 应的中间关键点特征图，得到与所述第i个并联层级对应的关键点特征图； 其中，与所述第i个并联层级对应的其他中间关键点特征图是与所述T 个并联层级中除 m 所述第i个并联层级以外的至少部分并联层级对应的中间关键点特征图，i是大于或等于1 且小于或等于T 的整数。 m 6.根据权利要求2所述的方法，其中，所述对所述表盘图