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电子显微分析
电子显微分析
电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用
产生的各种物理信号,分析试样物质的微区形貌、晶
体结构和化学组成。
电子显微分析是材料科学的重要分析方法之一,与其它的
形貌、结构和化学组成分析方法相比具有以下特点:
1) 具有在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、晶体
结构和化学成分。
2) 为一种微区分析方法,具有很高的分辨率,成像分
辨率达到0.2~0.3nm (TEM ),可直接分辨原
子,能进行nm尺度的晶体结构及化学组成分析。
3) 各种仪器日益向多功能、综合性方向发展
电子显微分析
1924年L. De和Broglie发现运动电子具有波粒二象性。
1926年Busch发现在轴对称的电磁场中运动的电子有会聚现象
二者导致研制电子显微镜的伟大设想
1931年,第一台电镜在德国柏林诞生。至1934年电镜的分辨
率可达50nm,1939年德国西门子公司第一台电镜投放市场,
分辨率优于10nm。
1935年克诺尔(Knoll)提出扫描电镜的工作原理,1938年
阿登纳(Ardenne )制造了第一台扫描电镜。
60年代后,电镜开始向高电压、高分辨率发展,100~200kV
的电镜逐渐普及,1960年,法国研制了第一台1MV的电镜,
1970年又研制出3MV的电镜。
70年代后,电镜的点分辨率达0.23nm ,晶格(线)分辨率达
0.1 nm。同时扫描电镜有了较大的发展,普及程度逐渐超过了
透射电镜。
电子显微分析
近一、二十年,出现了联合透射、扫描,并带有分析附件的分
析电镜。电镜控制的计算机化和制样设备的日趋完善,使电镜
成为一种既观察图象又测结构,既有显微图象又有各种谱线分
析的多功能综合性分析仪器。
80年代后,又研制出了扫描隧道电镜和原子力显微镜等新型
的电子显微镜。
我国自1958年试制成功第一台电镜以来,电镜的设计、制造
和应用曾有相当规模的发展。主要产地有北京和上海。但因某
些方面的原因,国产电镜逐渐被进口电镜取代。
在科学技术的各个领域,电镜已成为不可缺少的分析仪器,尤
其在材料领域,它以“科学之眼”发挥着任何其它分析技术不可替
代的作用,在攀登科学高峰的崎岖不平的道路上,正是电镜把人
类带进了以“纳米”为单位的奇妙的微观世界,它已经和正在为人
类建立丰功伟绩。
电子光学的一般知识
电子光学的一般知识
光的折射
折射定律:
v1
θ
N
sinθ v λ N 1
1 1 2
N N 2
21
sinγ v2 λ2 N 1 γ
v
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