Teststand应用实例分析说明.doc

'- 练习三：顺序测试 并行测试 自动协调并行测试 目标： 在实际应用中，为了提高测试效率，节省测试时间，往往需要同时进行多个DUT的并行测试，在Teststand环境中，只需要轻松配置，即可实现并行测试及自动协调并行测试。 图1 完整练习 硬件平台： 任意波形发生器PXI-5421, 示波器PXI-5122, 矩阵开关模块PXI-2532，接线盒TB-2641，接线盒SCB-264X， 数字万用表PXI-4071， 1KOhm电阻两个（电阻A，电阻B）。 硬件连接： 连接TB-2641接线盒与SCB-264X接线盒： 一端连接在TB-2641接线盒的J3排线端， 一端连接在SCB-264X接线盒Lower J3排线端。 在SCB-264X上安装电阻： 将电阻A两端分别连接在SCB-264X接线盒的B.1和B.2； 将电阻B两端分别连接在SCB-264X接线盒的B.5和B.6。 在SCB-264X上连接PXI-4071: 将PXI-4071的正极（红色）连接在SCB-264X接线盒的B.3； 将PXI-4071的负极（黑色）连接在SCB-264X接线盒的B.4。 直连信号发生器和示波器。 将PXI-5421 Arb的CH0直接连接到PXI-5122 Digitizer的CH1上。 图2 系统架构 顺序测试 操作步骤： 启动Teststand，打开练习二所保存的resistor test.seq文件，选择File>>save as 将 resistor test.seq另存为Ex3 sequential.seq。 按照下面步骤确认Teststand中的执行模式为顺序执行。 在菜单栏中选择Configure ? Station Options。 选择Model标签，在Station Model中选择 SequentialModel.seq。 保存设置。 修改resistor test配置，使其可以自动切换测试不同DUT。 选中resistor test 在Step Settings中，选择Properties选项卡。 选择Switching，在Router(s) to Connect中填入："RouteGroup"+Str(RunState.TestSockets.MyIndex ) ，如下图所示。 在Connection Lifetime下拉框中选择Step项，如下图所示。 图3 配置resisitor test的switch设置 插入一个Pass/Fail Test，并重命名为frequency test。如下图所示。 图4 插入Pass/Fail Test测试序列 选择Frequency Limit Test.vi为该项测试指定的VI模块。 在Step Settings标签下选择Module。 点击按键，从Support Files文件夹路径中选择Frequency Limit Test.vi。弹出对话框，点击确定。 VI加载后，窗口的右侧有该VI的图标，并同时显示出输出端子Test Passed?，点击表达式对话框按键。 图5 为Pass/Fail Test指定测试VI 在弹出的表达式对话框中选择Step.Result.PassFail选项，点击Insert按键确定。 图6 使用函数表达式对话框 在Sequences面板中鼠标右键单击，选择Insert Sequence新建一个序列，命名为resistor test seq，如下图所示。 图7 新建一个测试序列 将主序列中的resistor test拖到resistor test seq序列中，并在该序列中加入延时单元wait。 如下图所示进行拖动。按住鼠标左键将resistor test拖到Sequences面板中的resistor test seq上（保持鼠标按住不放），待左侧序列面板自动切换到resistor test seq序列时，再将resistor test拖回到该序列的main部分，最后释放鼠标按键。 图8 将主序列中的测试步骤拖到新序列中 在resistor test步骤下方右键单击，选择Insert Step>>Synchronization>>Wait，如下图所示。 图9 给序列添加延时单元Wait 配置Wait。在Wait Settings中选择Time Interval，在Specify the Amount of time to wait (in seconds)中写入数字5，表示等待5秒，如下图所示。 图10 配置Wait 在resistor test seq新序列中加入For循环。 在Main上右键单击，按照下图添加For循环。 图11 给序列中加入For循环 将resistor test与Wait拖入到For与End