GBT XXXXX-XXXX 电性能测试 微波频率下超导体表面电阻随功率的变化(征求意见稿).docx

ICS FORMTEXT 77.040.99 FORMTEXT H21 中华人民共和国国家标准 GB FORMTEXT /T xxxxx— FORMTEXT 201x/IEC 61788-16:2013 FORMTEXT FORMTEXT 电子学特性测量微波频率下超导体表面电阻随功率的变化 FORMTEXT Electronic characteristic measurements - Power-dependent surface resistance of superconductors at microwave frequencies FORMTEXT （IEC 61788-16:2013, Superconductivity – Part 16: Electronic characteristic measurements – Power-dependent surface resistance of superconductors at microwave frequencies, IDT） FORMDROPDOWN FORMTEXT （本稿完成日期：2018年08月17日） FORMTEXT ×××× - FORMTEXT ×× - FORMTEXT ××发布 FORMTEXT ×××× - FORMTEXT ×× - FORMTEXT ××实施 GB/T xxxx—201x/IEC 61788-16:2013 PAGE I 目??次 TOC \h \z \t"前言、引言标题,1,参考文献、索引标题,1,章标题,1,参考文献,1,附录标识,1,一级条标题, 3,二级条标题, 4,三级条标题, 5,附录章标题, 3,附录一级条标题, 4,附录二级条标题, 5" 前言 III 引言 IV 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 要求 1 5 仪器 2 5.1 表面电阻测试系统 2 5.1.1 蓝宝石柱tan δ的测试系统 2 5.1.2 微波频率下超导材料的表面电阻随输入功率变化关系测试系统 2 5.2 测试装置 3 5.2.1 蓝宝石谐振器 3 5.2.2 蓝宝石柱 4 5.2.3 超导薄膜 4 6 测试步骤 4 6.1 系统构建 4 6.2 蓝宝石柱tan δ的测量 5 6.2.1 概述 5 6.2.2 TE021模式的频率响应测量 5 6.2.3 TE021模频率响应的测量 6 6.2.4 蓝宝石柱tan δ的定义 6 6.3 表面电阻随功率变化的测量 7 6.3.1 概述 7 6.3.2 校准入射到谐振器的微波功率 8 6.3.3 参考电平测量 8 6.3.4 表面电阻随入射功率变化关系测量 8 6.3.5 最大表面磁通密度的确定 8 7 测试方法的不确定度 9 7.1 表面电阻 9 7.2 温度 10 7.3 样品和支撑结构 10 7.4 样品的保护 10 8 测试报告 10 8.1 被测样品的标识 10 8.2 表面电阻随输入功率变化关系测量报告 11 8.3　测试条件的报告 11 附录A（资料性附录）　与第1章-第7章相关的附加资料 12 A.1　蓝宝石柱谐振器结构 12 A.2　蓝宝石柱的尺寸 12 A.3　圆拟合技术 13 A.4　测量结果 14 A.5　参考文献 15 附录B（资料性附录）　关于不确定度 17 B.1　概述 17 B.2　定义 17 B.3　不确定度概念考虑 17 B.4　TC 90标准不确定度评定范例 19 参考文献 21 TOC \h \z \t"正文图标题,2,附录图标题,2" 图1　蓝宝石柱tan δ的测试系统 2 图2　表面电阻随输入功率变化关系测试装置图 3 图3　蓝宝石谐振器（开放式谐振器）测量超导薄膜表面电阻 4 图4　反射系数（｜S11｜和｜S22｜） 6 图5　表3中术语的定义 9 图A.1　三种形式的谐振器的结构示意图 12 图A.2　蓝宝石柱模式图 13 图A.3　使用传统的3dB方法和圆拟合方法有载品质因数QL的测量值 14 图A.4　使用双谐振模式介电谐振器方法测量的蓝宝石柱的与温度关系[3] 15 图A.5　表面电阻Rs与最大表面磁通密度的关系[3] 15 TOC \h \z \t",正文表标题,2,附录表标题,2" 表1　蓝宝石柱的