HPGe高纯锗谱仪实用培训课件.ppt

* 报告结果 全谱分析后会自动弹出报告 * * * 效率刻度（1） 打开待刻度的谱图,选择Library中的Select File，选择与当前谱对应的核素库，点击打开。 * 效率刻度（2） 选择Calibrate中的Efficiency，打开下图效率刻度对话框。 新建一个空白效率刻度文件：点击Save，输入效率曲线的名称后保存，效率文件为EFT类型。 * 效率刻度（3） 点击效率刻度曲线左上方白框，选择Edit File打开上一步新建的效率文件。 * 效率刻度（4） 核素信息：先从下拉列表中选择核素能量峰，然后点击Select from Lib。 输入标准源活度、不确定度及刻度日期。 完成后单击Add New。 * 效率刻度（5） 重复步骤（4），输入所有核素及活度信息。 点击Save As另存，由此完成效率证书文件的编辑。 曲线拟合方式及拐点设置，图示为多项式拟合。刻度完成后可以再调节。 * 效率刻度（6） 返回到谱图界面，选择Calibrate中的Efficiency，打开效率刻度对话框。点击Merge，选择步骤（5）编辑好的效率证书文件后点击打开，软件会自动执行效率刻度。 * 效率刻度（7） 自动效率刻度完成 ！ * 检查效率刻度 查看曲线形状是否符合理论规律，如果Delta偏差过大，应当更换拟合方式，如有必要可以适当删除一些能量峰。 拟合方式选择：通常对于P型探测器，在整个能量区间多项式可以很完美地拟合。如果多项式不适合，就需要考虑使用两个公式拟合，设定一个拐点，拐点上下分别拟合。 无论用哪种拟合方式，要注意观察效率的拟合偏差，通常Delta小于5%比较理想。 * 保存效率刻度 刻度完成后点击Save保存，类型为EFT格式。 * 保存刻度 选择Calibrate中的Save Calibration保存刻度，保存类型为CLB格式，此文件包含了能量和效率。 * 样品描述文件 点击Analyze，从列表中选择Settings中的Sample Type。 * 样品描述文件- Sample Description填入样品类型描述； Analysis Range填写分析的起止道址； Background Type选择Auto； Nuclide Library和Calibration栏里取消Internal的打勾，然后点击Browse选取事先建立好的样品分析核素库及标准源刻度。 * 样品描述文件- System MDA Type：最低探测限选择； PEAK SEARCH SENSITIVITY寻峰灵敏度：选1可能会发现一些假峰，选5可能会丢失掉一些小峰； Match Width匹配宽度:表示能量峰与最接近的核素库偏离但仍能够被识别的范围; Size里输入样品量及其单位。 * System - Fraction Limit 通过多个能量峰判断样品中是否存在某种核素 如果计算出Fraction数值大于设定的分支比限值,则判断核素存在,反之不存在。 value * Fraction Limit - Example 60Co主要有两个gamma射线 1173 keV 98% 1332 keV 100% 四种情况 两个峰都没有发现 找到1173，但没发现1332 找到1332，但没发现1173 两个峰都找到 * 样品描述文件- Decay 衰变校正：在前框打勾可以启动校正到某个日期和衰变过程中校正。这会影响到最终的分析结果。 样品采集：输入采样的开始和终止日期，通常用于气溶胶样品。 * 样品描述文件- Report 报告选项：通常选择Library peak list, Library peak matrix和Nuclide abundance三项。 不确定度报告：可以报告话度或者百分比。若选择Counting,只报告计数不确定度，若选择Total,报告计数和总的不确定度。 置信度选择：1,2,3 Sigma可选 报告输出：通常选择Program用写字板输出。 * 样品描述文件- Analysis 分析引擎：建议选择WAN32 重峰剥谱：选择Library Based Peak Cutoff：峰不确定度设置,不确定度超过设定值的能量峰将不报告出来。 * Analysis – 分析引擎 WAN32：用于固定核素库的批次样品分析，报告核素库中每一个核素的活度或最低探测限。 GAM32：用于空气监测，只报告发现的核素。 NPP32：适用于核电站环境样品测量。 ENV32：适用于环境样品。 ROI32：用于复杂谱图或低活度样品的简单分析。 * 样品描述