10量测系统分析.ppt

例題 7.8 * 解 例題 7.8 * 例題 7.11 * 解 例題 7.11 * 例題 7.12 * 解 例題 7.12 * 7.5 六標準差之製程衡量指標 6σ的製程管制其不良率係以百萬分之一 (ppm) 的倍數表之。6σ的製程大多使用自動化生產作業程序，以減少人為疏失。6σ的製程衡量指標之定義及計算方式如下： * 缺點數 * 良率 其良率計算之基準如下： * 良率 * 例題 7.14 * 解 例題 7.15 * 解 例題 7.16 * 例題 7.16 * 解 例題 7.3 * 7.3 組件裝配公差 組件 (assembly) 係由兩個 (含) 以上零件 (parts) 所裝配成的產品，當零件品質特性為常態分配時，其組裝的組件品質特性亦為常態分配。若組件 (Y) 是由數個零件 (Xi) 所組成，則組件之平均數、變異數及標準差為：其中 μ(Xi)為零件之平均數，σ2(Xi)為零件之變異數。 * 組件裝配公差 組件允差範圍為USL－LSL，組件經組裝後其品質特性之變異在組件允差範圍內者屬良品；在組件允差範圍外者屬不良品，其機率之計算如下： * 例題 7.4 * 例題 7.4 * 解 例題 7.4 * 例題 7.4 * 例題 7.5 * 例題 7.5 * 解 7.4.1　製程準度指標 製程準度指標 (Ca) 值係表示產品製程平均數 ( ) 與規格中心值 (μ) 之一致性。 若製程平均數與規格中心值間差異愈小，則表示製程偏移量愈小，反之則表示製程偏移量愈大。 7.4 製程能力指標 * 製程能力指標 * 製程能力指標 * 製程能力指標 一般Ca值可分為五個等級A、B、C、D及E，各等級是以樣本平均數偏離規格中心值為(T/2)的(1/2)n倍表之，n = 0、1、2、3、4，其定義如表7.1及圖7.11所示。 * Ca值 * Example * 解 7.4.2　製程精度指標 製程精度指標 (CP) 係衡量產品製程公差滿足其規格允差之程度，其衡量方式係以規格允差與產品製程標準差之比率為基準。 CP值為規格允差與製程公差之比值：其中T = 規格允差，USL = 規格上限，LSL = 規格下限，σ= 製程標準差。 * 製程精度指標 CP值之倒數 (1/CP) 稱為製程能力比 (capability ratio)，亦即製程品質達到規格允差之比例，如：CP = 2，製程能力比 = 0.5，即製程品質不良部份已耗用了50% 的規格允差。 * CP值 * 變異量與Cp * Cp與規格允差 * Cp等級 * Cp 以規格要求之期望而言，可分為望目 (管制規格上/下限)、望大 (管制規格下限)、及望小 (管制規格上限) 三類，其CP值定義及其超出規格之機率為： * Cp * 例題 7.7 * 例題 7.7 * 解 例題 7.7 * 例題 7.7 * 7.4.3 製程綜合能力指標 製程綜合能力指標 (Cpk) 是同時考量Ca值與 Cp值，即同時評估製程品質之精度與準度。 製程綜合能力指標Cpk值之計算方式如下： * * Cpk值 以對規格要求的期望而言，可分為望目、望大及望小三類，其定義及其超出規格的機率如下： * 製程能力 * 品質管制 * 第七章 製程能力分析 7.1 概論 製程能力 (process capability) 係指產品生產品質之一致性。製程能力之良窳將影響產品品質之一致性，因此產品銷售規格之制定除考量實際產品的規格 (真值) 與顧客期望的規格兩者之間的差異外，尚需考量製程變異。 * 產品製程變異係經由製造過程與量測過程所產生，其中量測過程係由人為因素與量測機具等所造成之變異。 製程總變異 = 產品製程變異 + 量測變異 (人 + 機) 當產品 (X) 由n個組件 (Xi) 組成時，該產品的平均數與標準差為： 平均數其中 為產品的平均數， 為各組件的平均數。 標準差其中σ為產品標準差，σi為各組件標準差。 7.2 變異之評量 * 若已知產品規格要求為：USL－LSL，則各組件規格 (USL－LSL)i及其變異數 ( ) 之關係為： 即 其中(USL－LSL)為產品組裝完成後的變異，此變異可供銷售人員與顧客議訂採購合約時使用。 變異之評量 * 變異之評量 若產品由n個相同零件組成 (即變異相同)，則組件變異(USL－LSL)i與產品變異(USL－LSL)之關係為： * 例題 7.1 * 解 例題 7.1 * 7.2.1 量測系統分析 量測有三要素：已知量、未知量及量測系統，其中量測誤差主要是因為量測儀具 (measuring devices) 誤差及人為 (users) 誤差所造成，亦稱為量測方法 (method of measurement) 誤差。