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数显高度计概述
SJ200系列高度计是是针对众多工业应用领域及检测机构进行设计的大量程、高精度的测量设备。本仪器采用高精度进口光栅作为测量基准，遵循阿贝原则，按照机械稳定性和热稳定性最好的原则设计而成，因此具有测量精度高、性能稳定、重复性好等特点。
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数显高度计功能
SJ200系列高度计可广泛适用于产品计量、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多领域，对长度、间距、厚度、高度或直线位移进行快速、准确的测量。
数显高度计结构原理
本仪器包括高精度光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、高性能的高速采样等。SJ200系列高度计采用高精度光栅，即玻璃基体的增量式光栅尺作为测量基准，所以支持大量程的测量。测量基准对震动和冲击不敏感，并具有确定的稳定特性。增量光栅尺的扫描方法为光电扫描，因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的极小测量步距，从而确保一个信号周期内微小位置误差。
数显高度计技术参数
5.型
5.型
号
SJ207
测量范围
（0~50）mm
配
置
50mm测头+SJ102+陶瓷台架
测量基准
进口高精度增量式光栅
精度(20℃)
1μm
重复性
优于0.2μm
分辨力
0.1μm、0.5μm、1μm可切换
测量速度
测量速度
小于7.2m/s
测量力
（1~1.4）N
驱动系统
被测物驱动，弹簧复位
测量测头
硬质合金球形测头（可选配平面测头、针形测头、偏心测头
显
示
8位LED
单位切换
mm/inch
输入电压
DC12V，配专用适配器
功
能
自动归零/数据校准
工作温度
（0~40）℃，标准温度20℃
型
型
号
SJ217
测量范围
（0~50）mm
配
置
50mm测头+SJ101+陶瓷台架+软件
测量基准
进口高精度增量式光栅
精度(20℃)
0.4μm
重复性
优于0.1μm
分辨力
0.01μm
测量力
测量速度
垂直方向：1.25N-1.75N；水平方向：0.75N-1.15N
小于7.2m/s
驱动系统
被测物驱动，弹簧复位
测头
硬质合金球形测头（可选配平面测头、针形测头、偏心测头等）
外部输出
RS-232
显
示
4.3寸触摸屏
单位切换
mm/inch
输入电压
AC100V～240V50Hz～60Hz
数据存储/数据校准/自动归零/预设值，
功 能
配专用指示表检定仪检定软件
工作温度
（20±1）℃
型
型
号
SJ228
测量范围
（0~100）mm
配
置
100mm测头+SJ101+陶瓷台架+按键盒+软件
测量基准
进口高精度增量式光栅
示值误差
（0.2+L/1000）μm
重复性
优于0.1μm
分辨力
0.01μm
测量速度
探测速度1~5mm/s可调
测量力
1.5N
驱动系统
电机驱动
测量测头
硬质合金球形测头（可选配平面测头、针形测头、偏心测
显
示
4.3寸触摸屏或PC
单位切换
mm/inch
输入电压
AC100V～240V50Hz～60Hz
功
能
具有强大的测量及数据管理功能
工作温度
（20±0.5）℃
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