GBT5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法.pdfVIP

ICS31-030

L90

中华人民共和国国家标准

/—

GBT5594.32015

代替/—

GBT5594.31985

电子元器件结构陶瓷材料

性能测试方法

:

第部分平均线膨胀系数测试方法

3

Testmethodsforroertiesofstructureceramic

pp

—

usedinelectroniccomonentsanddevice

p

:

Part3Testmethodformeancoefficientoflinearexansion

p

2015-05-15发布2016-01-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—

GBT5594.32015

前言

/《》:

GBT5594电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法的结构如下

———气密性测试方法(/);

GBT5594.1

———杨氏弹性模量泊松比测试方法(/);

GBT5594.2

———:(/);

第部分平均线膨胀系数测试方法

3GBT5594.3

———:(/);

第部分介电常数和介质损耗角正切值测试方法

4GBT5594.4

———体积电阻率测试方法(/);

GBT5594.5

———:(/);

第部分化学稳定性测试方法

6GBT5594.6

———