(测长仪校准规范)编制说明.docx

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编制说明

(测长仪校准规范)

2

一、任务来源

依据国家市场监督管理总局市监计量发【2023】56号《市场监管总局办公厅关于印发2023年国家计量技术规范项目制定、修订及宣贯计划的通知》文件下达的任务规定,由江苏省计量科学研究院等单位,负责《测长仪校准规范》的修订工作,修订工作于2023年6月开始,2024年3月完成征求意见稿。

二、制定原则

测长仪是用于测量量块、光滑极限量规、标准环规、螺纹量规等标准及零部件端度尺寸的几何量精密测量仪器,由于其操作相对便捷、准确度较高、配合数字化数据处理系统等特点,广泛应用于计量技术机构的量值传递和精密测量以及机械产品生产的各个质量检验环节。该类仪器早期均为光学机械式,随着光栅技术和数据处理方式的广泛应用,出现了数显测长仪,仪器的功能、计量特性出现了较大变化。在结构及原理上,测长仪采用了阿贝原理或光栅补偿或激光等技术方法,使其误差可控制在(±0.5~±2)μm,新型数显测长仪采用数据补偿后,其误差最高可达±0.10μm。

现行的JJF1189-2008《测长仪校准规范》,已颁布实施了十多年,在规范测长仪(含数显类)校准方法、保障量值溯源方面起到很大作用。近十多年来,数显测长仪的保有量剧增,本次修订将考虑到测长仪的多种结构型式,新增图例,新增细分示值误差和Z轴(垂向)示值误差等计量特性:因为在微小尺寸的比较测量中,数显测长仪的细分误差会影响测量结果,带来测量结果的偏离;部分测长仪为了满足螺纹环规的测量采用T形测头结构,T形测头在Z轴(垂向)的示值误差会影响中径测量值,也需要进行控制。并将修订原规范中的一些术语、对示值重复性校准方法、测量不确定度示例等内容进行修订。

序号

标准序号

标准要求项目

具体要求

规范处理意见

1

4.1

平面测帽和立式测长仪固定工作台的平面度

参考制造说明书

见规范6.2

2

4.2

示值变动性

参考制造说明书

见规范6.3

3

4.3

示值误差和细分误差

参考制造说明书

见规范6.4

4

4.4

示值重复性

参考制造说明书

见规范6.5

5

4.5

内测尺寸测量示值误差

参考制造说明书

见规范6.6

6

4.6

Z(Y)轴示值误差

参考制造说明书

见规范6.7

在制定校准规范过程中,参考了国内外的一些生产测长仪厂家的仪器技术说明书,如前苏联、蔡司(ZEISS)、西普(SIP)、新天的光学测长仪,野齿、德国EKM、台湾ABBE等也有部分数显测长仪,在实际测量指标上按不同类别的测长仪有相应的要求,量程是一个主要的参考因素。因此,在校准规范中示值误差和细分误差这一计量特性会根据不同量程确定相应的最大允许误差。

三、测长仪在使用中存在的问题

本次校准规范的修订,进一步规范了测长仪的计量校准方法,计量特性更加准确全面,对保障该类仪器的量值溯源准确、可靠,提升产品生产质量以及量值传递的技术水平做出一点贡献。

四、制定依据

按照JB/T6267-2013《立式测长仪》、JB/T10572-2013万能测长仪的内容,在信息检索获得多数生产厂技术信息的情况下,对各生产厂的产品性能指标进行了分析比较,并最终体现在规范的附录B中计量特性里。由于测长仪是国内外公司均有生产,在计量特性的规定上基本以各生产厂的指标为主,同时参考制造说明书的性能指标,使规范在使用上具有实用性与科学性。

根据实验结果验证测量不确定度评定的可靠性,以及计量特性的合理性。

五、规范施行后的影响

该规范为修订,与其量值传递相关的计量标准(量块)符合端度量值传递系统的要求,其建立过程无很高的技术要求,校准所用的标准器通过购买均可获得,开展校准的单位都有能力购买。

六、主要修定工作

3

1、按照《JJF1071—2010国家计量校准规范编写规则》的要求制定测长仪校准规范。在内容与格式上保持一致,校准规范的具体内容有引言、范围、引用文献、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果的表达、复校时间间隔。

2、根据确定的计量特性要求,针对相应仪器进行校准方法的实验验证,从而验证所提计量特性的可靠性,具体结果见实验报告。

3、确定了6项计量特性要求,分别为平面测帽、立式测长仪固定工作台的平面度、示值变动性、示值误差和细分误差、示值重复性、内测尺寸测量示值误差、Z(Y)轴示值误差。

4、对给出的校准项目,确定了相应的校准方法。

5、通过实验和测量结果不确定度评定,确定了校准条件。

七、征求意见和审定意见的采用情况

7.1征求意见稿的采用情况

7.2审定意见情况

具体内容见审定意见书。

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