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本申请提供一种芯片测试装置、测试系统及芯片测试方法,该芯片测试装置包括存储器和处理器;处理器用于实现如下步骤:根据待测芯片的仿真测试数据,确定待测芯片的起始输入功率和截止输入功率;根据起始输入功率,测定待测芯片的线性增益值;将起始输入功率与截止输入功率的中间值确定为待测芯片的第一输入功率;根据第一输入功率,测定待测芯片的第一增益值;根据线性增益值与第一增益值之间的差值,利用二分法确定待测芯片的目标增益点。上述方法能够提高待测芯片的目标增益点的测试效率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117761520A
(43)申请公布日2024.03.26
(21)申请号202311781442.X
(22)申请日2023.12.21
(71)申请人锐石创芯(深圳)科技股份有限公司
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