原创力文档- 1、本文档共15页，其中可免费阅读14页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
- 6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明公开一种硅基微环测温方法、系统及装置，方法包括：控制DAC生成扰动信号；控制ADC对微环输出光功率进行采样；在ADC采样的同时，将采样信号与频率进行正交计算，以得到频率分量大小；根据频率分量大小与温度的关系，计算当前温度。本发明通过扰动信号来检测光功率变化特征，提取光波长偏移量，也即得到当前温度对应的频率分量大小，再由频率分量大小与温度的关系，进而对温度进行测定。相较于现有的其他微环测温方案，或集中于游标效应忽略实施波长监测方法，或使用神经网络对波长数据与温度数据进行模拟，或致力于结构创新
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117589324A
(43)申请公布日2024.02.23
(21)申请号202311561722.X
(22)申请日2023.11.20
(71)申请人武汉光迅科技股份有限公司
地址
文档评论（0）