成果良好图像技巧.pdf

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Outline

ImageQualityIssueOverview

ProbeSelection

ImageQualityIssues

HighResolutionLowTap

Overview:ImageQualityIssue

ProbeSelection

AFMProbe

TheAFMworkingpripleisthemeasurementoftheinctive

betweenatipandthesamplesurfaceusingspecialprobesmadebyanelastic

cantileverwithasharptipon.

BrukerAFMProbe

FactorstobeConsidered

123

SamplePropertiesEnvironmentImagingMode

tobeMeasured

TopographyAirContactMode

ViscoelasticityLiquidTapTopography

ElectricPropertiesTapPhase

MaicPropertiesTRmode

SiliconNitrideProbes

ForcontactmodeAFMimaging,itisnecessary

tohaveacantileverthatissoftenoughtobe

deflectedbyverysmalls(i.e.,small

constant)andhasahighenoughresonant

frequencytonotbesusceptibletovibrational

instabilities.Thisisplishedbymakingthe

cantilevershort(toprovideahighresonant

frequency)andthin(toprovideasmall

constant).

SiliconProbes

Siliconprobesareusedprimarilyfortapmodeapplications.Thetipand

cantileverareanintegratedassemblyofsingle-crystalsiliconproducedby

etchingtechniques.

NitrideProbe

Awaferofsiliconnitrideprobesforcontactandfluidtapmodeimagingand

measurement.

NP,NP-S,DNP,DNP-S,SNL,ScanAsyst-Air/Fluid(+),MLCT,MSCT,MSNL

EtchedSiliconProbe

SiliconCantilever:0.2N/m,13kHz,AlReflexCoating.

DDESP,FESP,TESP,MESP

TESPTips

Sharpsiliconprobe,idealforTapModeandothermodesofgeneraloperation

42N

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