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本实用新型涉及芯片测试技术领域,提供了一种芯片测试实验台,包括测试组件,还包括:台体,台体的顶部的两侧分别开有合格收集槽和不合格收集槽;支撑座,支撑座固定安装在台体的顶部,支撑座的顶部开有容纳槽;旋转组件,旋转组件包括转动件、底板和电机,转动件沿横向设置在容纳槽内、且两端均与容纳槽的内壁转动连接,底板沿横向设置在转动件的上方、且与转动件固定连接,电机用于控制转动件旋转;限位组件,限位组件包括固定块、导向杆和升降板,固定块固定安装在底板的顶部,固定块与芯片相适应,导向杆与底板滑动连接,升降板沿横向
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 219648139 U
(45)授权公告日 2023.09.08
(21)申请号 202320978747.9
(22)申请日 2023.04.26
(73)专利权人 中芯启通微电子(成都)有限公司
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