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本发明公开了一种软膜电路板缺陷检测方法及相关装置，该方法包括：获取缺陷样本数据集，所述缺陷样本数据集包含多种不同缺陷的电路板样本图像；采用YOLOv7目标检测算法，以所述缺陷样本数据集中的一部分数据作为训练集，以所述缺陷样本数据集中的另一部分数据作为验证集，进行检测模型的训练及验证；获取被检测电路板图像，并采用模板匹配方式对被检测电路板图像中各个电路部分进行精确定位，再利用所述检测模型进行缺陷检测。根据本发明的软膜电路板缺陷检测方法及装置，以YOLOv7目标检测算法作为基本检测模型，对图像拍摄因
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116664491 A
(43)申请公布日 2023.08.29
(21)申请号 202310468860.7 G06V 10/75 (2022.01)
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