DB44_T 1905-2016 超高频射频识别(RFID)芯片测试方法.docx

ICS?31.200 L?55 备案号：52766-2017  DB44 广 东 省 地 方 标 准 DB44/T?1905—2016 超高频射频识别(RFID)芯片测试方法 2016-09-29?发布 2016-12-29?实施 广东省质量技术监督局 发布 DB44/T?1905—2016 目 次 前言……………………………………………………………………………………………………………Ⅲ 1?范围……………………………………………………………………………………………………………1 2?规范性引用文件………………………………………………………………………………………………1 3?术语和定义……………………………………………………………………………………………………1 4?符号和缩略语…………………………………………………………………………………………………2 4.1?符号………………………………………………………………………………………………………2 4.2?缩略语……………………………………………………………………………………………………2 5?概要……………………………………………………………………………………………………………2 5.1?总体要求…………………………………………………………………………………………………2 5.2?测试环境…………………………………………………………………………………………………3 5.3?默认容限…………………………………………………………………………………………………3 5.4?本底噪声…………………………………………………………………………………………………3 6?测试平台………………………………………………………………………………………………………3 6.1?标签芯片测试平台………………………………………………………………………………………3 6.2?阅读器芯片测试平台……………………………………………………………………………………3 7?标签芯片测试…………………………………………………………………………………………………4 7.1?标签芯片物理层测试?……………………………………………………………………………………4 7.2?标签芯片协议层功能一致性测试………………………………………………………………………6 8?阅读器芯片测试………………………………………………………………………………………………8 8.1?阅读器芯片发射机主要性能参数测试…………………………………………………………………8 8.2?阅读器芯片接收机主要性能参数测试…………………………………………………………………9 8.3?阅读器芯片协议层功能一致性测试?…………………………………………………………………11 Ⅰ DB44/T?1905—2016 前 言 本标准按照GB/T?1.1—2009给出的规则起草。 本标准由广东省质量技术监督局提出。 本标准由广东省无线射频（RFID）标准化技术委员会（GD/TC1）归口。 本标准起草单位：中山达华智能科技股份有限公司、电子科技大学、广州市标准化研究院、电子科 技大学中山学院、中山职业技术学院、中山大学花都产业科技研究院、东莞市中电云华信息技术有限公 司。 本标准主要起草人：文光俊、李建、蒋晖、赵文强、王耀、徐永键、徐广健、陆许明、罗国章、程 文彬、冷小冰、闫胜利、万其明、王伟。 本标准为首次发布。 Ⅲ DB44/T?1905—2016 超高频射频识别(RFID)芯片测试方法 1??范围 本标准规定了超高频（800/960?MHz）射频识别标签芯片和阅读器芯片的测试内容与方法。 本标准适用于超高频射频识别标签芯片和阅读器芯片的测试。 2??规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T?29768-2013 信息技术?射频识别?800/900?MHz?空中接口协议 GJB?7377.1-2011 军用射频识别空口接口?第?1?部分：800/900?MHz?参数 ISO/IEC?18000-6：?信息技术?面向物品管理的射频识别?第?6?部分：860?MHz~960?MHz?空中通信 接口参数（Information?technology?—?Radio?frequency?identification?for?item?management?—Part 6:?Parameters?for?air?interface?communications?at?860?MHz?to?960?MHz） ISO/IEC?TR?18047-6