JB 9495.4-1999光学晶体应力双折射测量方法.pdf

ICS 17. 180;31.030N 05中华人民共和国机械行业标准JB/T 9495.4-1999光学晶体应力双折射测量方法Measuring method for stress - birefringence of optical crystal1999 - 08 - 06 发布2000-01 01 实施国家机械工业局发布 JB/T 9435.4--1999前言本标准是对ZB N05001.4—86.光学晶体应力双折射测量方法》的修订。本标准根据GB/T1.1-1993和GB/T1.22一1993的要求对原标准作了编辑、文字上的修改，主要技术内容没有变化。本标准自实施之日起，代替ZBN05001.4-86本标准史仪表功能材料标准化技术委员会提出并归门。本标准北京玻璃研究所负贵起草。本标准主要起草人：王维民。本标准1986年6月首次发布。 中华人民共和国机械行业标准JB/T 9495.4—1999光学晶体应力双折射测量方法代替 ZB N05001.4 - 86Measuring method for stress -- birefringenceof optical crystal1 范围本标准适用于立方晶体的应力双折射测量，包括定性、定量两种测量方法。2 引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。JB/T 9495.1-1999光学晶体3原理晶体一般具有各向异性的特点，当光通过时会产生双折射现象。但就立方晶系的光学晶体而言，应该没有双折射现象。当立方晶系的晶体存在有应力时，也可以产生双折射现象，应力的大小就用寻常光（o光)和非寻常光（e光)在晶体内的光程差来衡量，通常用单位厚度的光程差来表示。测量方法有两种，一种是定性的方法，用偏振光的干涉色来判断光程差的大小；一种是定量的方法，也称1/4波片法，它通过检偏器的旋转角度θ直接计算出光程差的数值，计算公式如下：.(1)式中：-光程差，nm;>—测量用单色光波长,nn;8—检偏器旋转角度，(°)。4 仪器4.1定性测试方法采用应力仪，其光路如图1所示。起偏镜、检偏镜互相正交。补偿片光差差为56Cm不放样品时规场呈紫红色。并附有比色板，4.2定量测试采用双折射仪，其光路如图2所示。它采用1/4波片法：用滤光片来形成单色光：5样品要求测量应力用的样品上下两面应平行，大小厚度均不限。最好两面抛光，若不抛光则应在两面涂上与样品折射率相近的折射率油。2000- 01-01实施国家机械工业局1999- 08 ~06批准1 IB/T 9495.4-19991-滤光片；2-检偏器；3~1/4波片；.4-样品；5-起器1检偏器；2-补偿片；3-样品；4-起偏器图 2 双折射仪示意图图 应力仪示意图6 测试步骤6.1 定性测量法将样品放在样品台上，观察偏振光干涉色的情况，找到应力最大处，用比色板比较或根据颜色查表来确定应力大小。6.2 定量测定法使检偏器和起偏器正交，并转动1/4波片，使视场达到全暗，放上样品台使视场全暗，然后再把样品转动45°角，转动捡偏器再达到视场全暗，读出捡偏器旋转角度8值，因单光波长为入=450mm，则双折射光程按下列公式计算：5=30(2)7测试报告测得光程差后量出晶体样品厚度，用单位厚度的光程差来表示应力大小，按JB/T9495.1-1999的5.2.3规定分类。将所测得的光程差及应力类别依测试方法不同填写表1或表 2的测试报告。表 1 定性方法测试报告单测试人复核人样测试日期光程差应力双折射类别彼振光干涉色 JB/T 9495.4--1999表2定量方法测试报告单测试人复核人品测试日期样单位厚度光程差祥品字度旋转角度8应力双折射类别(°)nm'cmcm JB/T 9495.4—1999中华硚人民机械行业标推光学晶体应力双折射测量方法JB/T 9495 . 4—1999*机械工业仪器仪表综合技术经济研究所出版北京市广安门外大街甲397号邮政编码：100055电缆话63261816廊坊市光达胶印广印刷机械工业仪器仪表综合技术经济研究所发行*E - mai : sditei @ public .gb. 网t:hp: ///content.htm*2001年10月第一版 2001年10月第一次印刷*