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本发明涉及一种芯片的质量检测装置,包括至少两个测试站和控制单元,至少两个测试站以串测的方式对芯片进行测试,所述控制单元基于抽测指数来指示测试站抽取合格芯片并进行至少一次质量测试;所述抽测指数的确定方式为,m=n‑a+b,其中,m表示抽测指数,n表示一轮测试芯片的数量;a表示测试站的数量;b表示测试站的序号。本发明通过对抽测指数进行确定并且基于抽测指数进行质量测试的数据调节,从而提高了各个测试站的测试效率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113325298 B
(45)授权公告日 2022.07.12
(21)申请号 202110606807.X (51)Int.Cl.
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