存储器的制造方法及存储器.pdfVIP

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本发明实施例提供一种存储器的制造方法及存储器,包括:提供基底,在基底上形成第一隔离层及分立的位线,第一隔离层位于位线远离基底的表面且还位于相邻位线之间;去除部分厚度的第一隔离层,形成分立的第一沟槽;形成填充第一沟槽的字线,字线与位线之间具有部分厚度的第一隔离层,字线具有相对的第一侧壁及第二侧壁,在字线之间形成分立的通孔,通孔暴露字线相对的第一侧壁、第二侧壁及位线表面;在第一侧壁表面形成第一介质层,在第二侧壁表面形成第二介质层;第一介质层的等效栅介质层厚度大于第二介质层的等效栅介质层厚度;形成填充

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114446890 A (43)申请公布日 2022.05.06 (21)申请号 202011233641.3 (22)申请日 2020.11.06 (71)申请人 长鑫存储技术有限公司 地址 230

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